手持式/便携式/台式 X 射线荧光 (XRF) 分析仪能够对固体、粉末、液体等样品进行定性和定量分析，检测范围从Na-U，分析浓度从100％－亚ppm级。
通过对粉末、单晶或多晶体等块体材料等样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息，是目前研究物质的物相和晶体结构最有力的方法。
测量镀层厚度为什么如此重要？测量镀层厚度可以帮您降低物料成本，响应重要的工业标准，并能维护您在行业中的声誉。无论是在生产过程中的检测还是对来料进行检验，都是如此。 浪声系列镀层分析仪致力于为您提供专业的涂镀层分析解决方案，仪器具有手持式、便携式、台式等型号，可根据您的需求对光束尺寸、探测器、准直器配置，以满足您的镀层要求，镀层分析仪适用于定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量。
可对各种固态、液态、气态物质的分子组成、结构及相对含量等进行分析，实现对物质的鉴别与定性，亦可与其他技术结合相互应用，更高效地确定样品的种类和结构。
基于物联网数据传输+大数据+信息化软件,为客户打造智能在线监测解决方案，无需人员值守，轻松实现实时连续检测/监测和远程监控。
可对铝基、镁基等金属材料进行现场牌号鉴别及合金元素成分的快速鉴定，被广泛应用于工业生产、材料鉴定、回收及分拣等领域。
