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XRD-LabStation-5系列(落地式)

XRD-LabStation-5

模块化设计灵活配置,超高性能集成一体,多元应用分析效能倍增!
XRD-LabStation-5

XRD-LabStation-5落地式X射线衍射仪作为新一代高性能多功能衍射分析平台,配备了HPC探测器,并具备自动识别功能,能够智能识别所有光学组件和样品台。结合CrystalX智能分析软件,它可实现一键式操作,从样品放置到结果分析全程自动化,极大地简化了实验流程,显著提高了科研效率。

该仪器不仅操作简便,还具备高度灵活性。其高精度θ/θ闭环测角仪驱动系统确保了测量结果的高准确性和重复性。非共面臂结构进一步拓展了仪器的应用范围和测量能力。无论是普通粉末样品、液体样品,还是纳米材料、药品、半导体、薄膜等复杂样品,XRD-LabStation-5都能轻松应对,满足多样化的科研需求。全自动光学系统与模块化设计的结合,在实现先进测量的同时,提供了强大的扩展性,可根据不同需求灵活配置。

凭借其卓越的性能、智能的操作方式以及多功能性,XRD-LabStation-5为材料科学、纳米技术、半导体研发等领域的工作者提供了一个高效、可靠的分析平台,助力研发生产与技术创新。



使用优势

模块化设计

配备模块化样品台系统,支持无工具卡扣式插拔,安装与更换过程简单高效,极大地提升了仪器使用的灵活性。

多种光束几何

配备Bragg-Brentano粉末衍射几何和块状样品、涂层和适用于薄膜的平行光束几何,它们之间可以进行切换,且无需人工干预,是粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。

出色的HPC探测器

搭载光子计数像素化HPC探测器,在对衍射强度具有极大提升的同时,显著提升了灵敏度、信噪比、动态范围、时间分辨率和空间分辨率五大核心性能。

电动可变狭缝

配备电动可变狭缝能够根据测量需求自动调整狭缝宽度,优化光束强度与分辨率,提高测量精度和效率,同时适应不同样品类型和实验条件,增强仪器的灵活性和适用性。

多元化的附件选择

可配备丰富的样品台附件,为您提供灵活多样的样品分析解决方案,满足不同形态、尺寸和测试需求的样品分析,助您更全面、深入地探索材料特性。

衍射圆半径≥300mm

XRD-LabStation-5配备衍射圆半径≥300mm,可显著扩展测量角度范围,提供更高的分辨率和更宽的2θ扫描范围,从而实现对复杂材料微观结构的高精度分析,尤其适用于薄膜、纳米材料及多晶样品的精细研究。

非共面臂结构

配备非共面臂结构显著扩展了测量角度范围,提升了测量精度,增强了面内衍射测量能力,同时支持多种应用,为薄膜研究、残余应力分析、织构分析等提供了强大的支持,极大地提升了仪器的多功能性和适用性。

应用场景

SHINE 研究版(图1)


生物医药


FRINGE EV(图2)

新材料

FRINGE EV(图3)

地质

SHINE 研究版(图4)


研究与教育


SHINE 研究版(图5)

金属化合物

SHINE 研究版(图6)


化学工业




规格参数

测角仪

立式测角仪、衍射圆半径≥ 300mm

2θ转动范围-110°- +168°
X光管金属陶瓷 X 射线管,焦点:1 x 12mm,配置Cu靶,Co靶、Cr靶、Mo靶可选配
驱动方式交流伺服电机驱动+双光学编码器
高压发生器功率3000W
仪器尺寸1400mm x 1100mm x 1994mm(W×D×H)
整机质量约950kg
电源220V±10V,50Hz,整机功率≥4500W
分辨率<0.04°2θ半峰宽FWHM
扫描速度0.01 - 120˚/min
散热方式使用外置水循环冷却系统,强力冷却澎湃动力
探测器

HPC探测器(可选配)

接口USB接口连接PC用于控制XRD
原位分析属性

提供5路气源接口,舱内提供4路电源供电,提供4路电机驱动,提供2路控制总线,集成支持多种原位分析附件。

云端服务功能“XRD-LabStation-5”配套使用可同步的移动端APP服务,用于支持衍射数据卡片化管理,并支持接入知识管理系统。
CrystalX物相检索软件含原始数据直接检索功能,数据处理软件,含物相定量分析:可编程定量分析。无标样定量分析,无标晶粒尺寸分析,粉末衍射结构精修,粉末衍射结构解析功能专用的晶体分析软件。CrystalX自动模式可在获得衍射数据后,自动进行物相分析,并给出物相各组分百分比,大大降低了使用人员的要求,无需手动检索,无需扣背景,无需平滑,无需手动寻峰,仅仅需要点击“开始测试”,其它由CrystalX 软件自动分析。