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晓INSIGHT系列

晓INSIGHT PCB、晶圆版

精准到纳米级的镀层分析仪器
晓INSIGHT PCB、晶圆版

镀层作为保证电子行业产品质量可靠性和稳定性的主要工艺,其厚度是产品质量的最重要保证因素,因此,对镀层厚度的质量控制/保证至关重要,X射线荧光(XRF)因为其非破坏性、测量快速、易于使用,已成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术。


晓INSIGHT专为微光斑和超薄镀层分析而设计,可提供极高的计数率,用于测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层,并提供高精度的检测结果,同时保持较短的测量时间,这借助于其内部采用高强度毛细管光学系统和高灵敏度的检测器。帮助诸多的PCB、半导体等电子相关行业轻松应对超薄镀层带来的检测挑战,有效提高生产力,确保符合规范,以避免出现性能低下的风险以及与废料或返工相关的成本。


使用优势

多准直器组件

可选配多准直器组合自动切换,使得晓INSIGHT的多功能性得以显著提升,以灵活应对不同尺寸的零件。

高强度毛细管光学系统

晓INSIGHT可选配高强度毛细管光学系统可以测量小于 50 µm 的特征上的纳米级镀层,可为仪器带来更高的计数率、  更小的点位测量,更薄的镀层测量,有助于将仪器的分析效率翻倍。

可编程自动位移样品台

选配自动平台,轻松实现自动测量,可以更快的准备和测量样品,从而提高分析量。

一键式测量

配备直观而智能的分析软件,操作简单,任何人无需培训都可以测试样品,仅仅需要点击“开始测试”,数十秒即可获得检测结果啦。

高灵敏度的检测器

对于复杂的镀层结构,SDD系列检测器更易分析具有类似XRF特征的元素,具有更佳分辨率、更低的背景噪声(最高 S/N 比),并且可以更精确地测量较薄镀层。

自动对焦

无论样品厚薄或大小如何,都可在几秒钟内自动对样品进行对焦,可从远至80毫米的距离测量样品,非常适合测量具有凹陷区域的零件,或者适用于测量不同高度的多个样品。


规格参数

特点

自上而下的测量结构,XYZ测量平台,Muti-FP多层算法

元素范围Na(钠)—Fm(镄) 
分析层数5层(4层+基材)每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素
X射线管微聚焦X射线管、毛细管X射线管(可选配)
探测器高灵敏度大面积SDD探测器、SDD 50mm2超大面积探测器(可选配)
准直器多准可选,多准可组合
相机

高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素

放大倍数

40x-160x

手动样品XY平台移动范围:100 x 150 mm
可编程XY平台(可选配)
Z轴移动范围150 mm
样品仓尺寸520×480×170mm(L×W×H)
外形尺寸624×702×730mm(L×W×H)
重量120KG
电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 
额定功率150W