随着我国社会经济的发展，我国矿业目前正处于转型期，朝着生态环保、高质量发展、资源节约、技术创新是矿业的发展方向，这对矿产采选、冶炼、深加工等环节中对矿产品质检测有了更严格的要求。
X射线荧光分析技术是一种快速、无损、高精准度、可多元素同时测定的物质测量方法。适合于矿产主量、次量及微量成分分析具有简便、快速的优点，这些特点使得该分析技术在许多领域都更加便携且更具优势。
TrueX 矿石分析仪重量轻、体积小，坚固耐用，能够在很少或没有样本准备的情况下，在采矿活动的各个阶段，包含从基层勘探开发，到矿石品位控制，甚至环境调查等情况下，提供快速、准确的元素分析结果，与传统的实验室方法相比，样品吞吐量高，样品密度增加，省时省心又省力。
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| 重量 | 1.5KG |
| 尺寸 | 254mm x 79mm x 280 mm(L x W x H) |
| 激发源 | 50kV/200μA上限，管压管流可自由调节，W/Ag/Rh靶材（可选配） |
| 探测器 | Si-Pin探测器/SDD探测器 (可选配) |
| 元素范围 | Mg(镁)—U(铀) |
| 显示系统 | 4.3英寸工业级电阻触摸屏 自动根据外部环境亮度调节显示器亮度 |
| 数据处理 | 内置32G存储器 USB，蓝牙，WIFI，可将设备联入互联网，可远程对仪器进行设置及检修 |
| 安全性 | 内置DoubleBeam™ 技术自动感知前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级 防水、防尘、防震手提箱 LANScientific专用安全绳 |
| 电源系统 | 配备MSBUS总线智能电池2块 单电池可持续工作8H左右，可直接查看电池剩余容量 符合航空危险品运输条例 |
| 语言 | 中文、英语等 |
