高精度的X射线荧光分析技术,采用先多曲面连续弯曲晶体,实现单色激发,有效消除荧光峰下的X射线散射本底,显著提升检测性能。以分析速度快、精准度高、分析范围广而深受市场青睐,是材料科学、环境监测分析应用的可靠工具。